【题目】[化学—选修3:物质结构与性质]
硅是重要的半导体材料,构成了现代电子工业的基础。请回答下列问题:
(1)基态Si原子中,电子占据的最高能层符号为_______,该能层具有的原子轨道数为________、电子数为___________。
(2)硅主要以硅酸盐、___________等化合物的形式存在于地壳中。
(3)单质硅存在与金刚石结构类似的晶体,其中原子与原子之间以___________相结合,其晶胞中共有8个原子,其中在面心位置贡献__________个原子。
(4)单质硅可通过甲硅烷(SiH4)分解反应来制备。工业上采用Mg2Si和NH4Cl在液氨介质中反应制得SiH4,该反应的化学方程式为___________________________________。
(5)碳和硅的有关化学键键能如下所示,简要分析和解释下列有关事实:
化学键 | C—C | C—H | C—O | Si—Si | Si—H | Si—O |
键能/(kJmol-1 | 356 | 413 | 336 | 226 | 318 | 452 |
①硅与碳同族,也有系列氢化物,但硅烷在种类和数量上都远不如烷烃多,原因是______。
②SiH4的稳定性小于CH4,更易生成氧化物,原因是___________________________。
(6)在硅酸盐中,SiO4- 4四面体(如下图(a))通过共用顶角氧离子可形成岛状、链状、层状、骨架网状四大类结构型式。图(b)为一种无限长单链结构的多硅酸根,其中Si原子的杂化形式为______,Si与O的原子数之比为_________,化学式为__________________。
【答案】M 9 4 二氧化硅 共价键 3 Mg2Si + 4NH4Cl = SiH4+ 4NH3+ 2MgCl2 C—C键和C—H键较强,所形成的烷烃稳定。而硅烷中Si—Si键和Si—H键的键能较低,易断裂,导致长链硅烷难以生成 C—H键的键能大于C—O键,C—H键比C—O键稳定。而Si—H键的键能却远小于Si—O键,所以Si—H键不稳定而倾向于形成稳定性更强的Si—O键 sp3 1∶3 SiO32-
【解析】
(1)硅原子核外有14个电子,其基态原子的核外电子排布式为1s22s22p63s23p2,对应能层分别别为K、L、M,其中能量最高的是最外层M层,该能层有s、p、d三个能级,s能级有1个轨道,p能级有3个轨道,d能级有5个轨道,所以共有9个原子轨道,硅原子的M能层有4个电子(3s23p2);
故答案为M;9;4;
(2)硅元素在自然界中主要以化合态(二氧化硅和硅酸盐)形式存在,
故答案为二氧化硅
(3)硅晶体和金刚石晶体类似都属于原子晶体,硅原子之间以共价键结合.在金刚石晶体的晶胞中,每个面心有一个碳原子(晶体硅类似结构),则面心位置贡献的原子为 6×=3个;
故答案为共价键;3;
(4)Mg2Si和NH4Cl在液氨介质中反应制得SiH4、NH3和MgCl2,方程式为:Mg2Si+4NH4Cl=SiH4+4NH3+2MgCl2,故答案为Mg2Si+4NH4Cl=SiH4+4NH3+2MgCl2;
(5)①烷烃中的C-C键和C-H键大于硅烷中的Si-Si键和Si-H键的键能,所以硅烷中Si-Si键和Si-H键的键能易断裂,导致长链硅烷难以生成,
故答案为C-C键和C-H键较强,所形成的烷烃稳定,而硅烷中Si-Si键和Si-H键的键能较低,易断裂,导致长链硅烷难以生成;
②键能越大、物质就越稳定,C-H键的键能大于C-O键,故C-H键比C-O键稳定,而Si-H键的键能远小于Si-O键,所以Si-H键不稳定而倾向与形成稳定性更强的Si-O键;
故答案:C-H键的键能大于C-O键,C-H键比C-O键稳定.而Si-H键的键能却远小于Si-O键,所以Si-H键不稳定而倾向于形成稳定性更强的Si-O键;
(6)硅酸盐中的硅酸根(SiO44-)为正四面体结构,所以中心原子Si原子采取了sp3杂化方式;
故答案为sp3;
根据图(b)的一个结构单元中含有1个硅、3个氧原子,化学式为SiO32-;
故答案为1:3;SiO32-。
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【题目】某强酸性溶液X可能含有、、、、、、、、、、中的一种或几种,取该溶液进行连续实验,实验过程如下:
测定A、F、I均为,10mLX溶液中,沉淀C物质的量小于,根据以上信息,下列说法正确的是
A.由实验可知,气体A一定是NO,沉淀C一定是,原溶液中肯定含有
B.溶液E和气体F不能发生化学反应
C.由实验可知,沉淀I可能是和
D.原溶液中肯定含有、、、、,不能确定是否含有
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【题目】电石浆是氯碱工业中的一种废弃物,其大致组成如表所示:
成分 | CaO | SiO2 | Al2O3 | Fe2O3 | MgO | CaS | 其它不溶性的物质 |
质量分数/% | 65~66 | 3.5~5.0 | 1.5~3.5 | 0.2~0.8 | 0.2~1.1 | 1.0~1.8 | 23~26 |
用电石浆可生产无水CaCl2,某化工厂设计了以下工艺流程:
已知氯化钙晶体的化学式是CaCl2·6H2O;H2S是一种酸性气体,且具有还原性。
(1)反应器中加入的酸应选用______________。
(2)脱色槽中应加入的物质X是__________;设备A的作用是__________;设备B的名称为__________;设备C的作用是_______________。
(3)为了满足环保要求,需将废气H2S通入吸收池,下列物质中最适合作为吸收剂的是_______(填序号)。反应的化学方程式为____________________________。
A.水 B.浓硫酸 C.石灰乳 D.硝酸
(4)将设备B中产生的母液重新引入反应器的目的是______________________。
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【题目】反应 C(s)+H2O(g)CO(g)+H2(g)在一个可变容积的密闭容器中进行,下列条件的改变 对其反应速率几乎无影响的是( )
①增加碳的量且表面积保持不变 ②加热③保持体积不变,充入 He,使体系压强增大 ④保持压强不变,充入 He,使容器体积变大
A.②④B.②③C.①④D.①③
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【题目】科学的进步离不开技术的突破。原子光谱、核磁共振、X射线衍射、量子计算等技术的发展与应用都推进了结构的研究。如过渡元素原子结构、超分子结构、晶体结构研究等。
(1)过渡元素Ni原子的基态电子排布式为____________________,Ni的核外电子由基态跃迁至激发态时产生的光谱是__________(填“吸收”或“发射”)光谱。
(2)胍鎓离子[C(NH2)3+]可以与甲基磺酸根(CH3SO3-)形成超分子晶体,其局部结构如图所示。
①组成该晶体的元素中第一电离能最大的是_____________,其中C的杂化类型有_______________。
②元素C、N、S的简单氢化物在水中的溶解度从大到小的顺序为__________,原因是__________。
(3)近年研究人员通过量子化学计算预测并合成了化合物Na2He,经X射线衍射分析其晶胞结构如图所示。
①晶胞中Na堆积形成__________(填形状)空隙,He占据一半空隙,另一半由e-占据。已知Na2He晶体不能导电,理由是_________________________。
②已知晶胞边长为a nm,晶胞中Na的半径为b nm,则He的半径为__________nm(列出计算式即可)。
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【题目】下列关于苯的说法正确的是( )
A.苯的分子式为C6H6,它不能使酸性KMnO4溶液褪色,属于饱和烃
B.从苯的凯库勒式()看,78g苯中含有碳碳双键数为3NA
C.在催化剂作用下,苯与液溴反应生成溴苯,发生了加成反应
D.苯分子为平面正六边形结构,6个碳原子之间的化学键完全相同
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【题目】Ⅰ.铁、铝及其化合物在生产和生活中有着广泛的应用。
(1)某研究性学习小组设计了如图所示装置探究钢铁的腐蚀与防护。
为防止金属Fe被腐蚀,可以采用上述________(填装置序号)装置原理进行防护;装置③中总反应的离子方程式为_________________。
(2)为处理银器表面的黑斑(Ag2S),将银器浸于铝质容器里的食盐水中并与铝接触,Ag2S转化为Ag,食盐水的作用为_______________________。
Ⅱ.纳米级Cu2O由于具有优良的催化性能而受到关注,采用肼(N2H4)燃料电池为电源,用离子交换膜控制电解液中c(OH-)制备纳米Cu2O,其装置如图甲、乙。
(1)上述装置中D电极应连接肼燃料电池的________极(填“A”或“B”),该电解池中离子交换膜为________离子交换膜(填“阴”或“阳”)。
(2)该电解池的阳极反应式为____________________。
(3)当反应生成14.4 g Cu2O时,至少需要肼________mol。
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【题目】利用双离子交换膜电解法可以处理含NH4NO3的工业废水,原理如图所示,下列叙述错误的是
A. NH4+由b室向c室迁移
B. c室得到的混合气体是NH3和H2
C. 阳极反应式为2H2O -4e-=O2+4H+
D. 理论上外电路中流过1mol电子,可处理工业废水中0.5mol NH4NO3
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【题目】实验室制取乙烯,常因温度过高而使乙醇和浓硫酸反应生成少量的二氧化硫。有人设计下列实验以确认反应混合气体中含有乙烯和二氧化硫,装置如图所示,试回答下列问题。
(1)图中①②③④装置可盛放的试剂分别是___________________(填序号,下同)、___________________、___________________、___________________。
A.品红溶液 B.溶液 C.浓硫酸 D.酸性溶液
(2)能说明二氧化硫气体存在的现象是______________________________________。
(3)使用装置②的目的是________________________,使用装置③的目的是________________________。
(4)能说明混合气体中含有乙烯的现象是____________________________________________________。
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