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在做“验证动量守恒定律”实验时,入射球A的质量为m1,被碰球B的质量为m2,小球的直径为d,各小球的落地点如图所示.
(1)入射球A与被碰球B直径相同,均为d,它们的质量相比较,应该是m1
m2( 填“<”或“>”或“=”)   
(2)为了保证小球做平抛运动,必须调整斜槽使
其末端切线水平
其末端切线水平

(3)继续实验步骤为:
A.在地面依次铺白纸和复写纸
B.确定重锤对应点O
C.不放球B,让球A从斜槽滑下,确定它落地点位置P
D.把球B放在立柱上,让球A斜槽滑下,与B正碰后,确定球A、B落地点位置M、N
E.用刻度尺量出OM、OP、ON的长度,分别记做LOM、LOP、LON
F.看m1 LOM+m2 LON 与m1 LOP是否相等,以验证动量守恒
上述步骤有几步不完善或有错误,请指出并写出相应的正确步骤.
D选项中,球a应从与C项相同高度滑下;
E选项中,P、M、N点应该是多次实验落地点的平均位置.
F选项中,应看m1LOM+m2(LON-d)与m1LOP是否相等
D选项中,球a应从与C项相同高度滑下;
E选项中,P、M、N点应该是多次实验落地点的平均位置.
F选项中,应看m1LOM+m2(LON-d)与m1LOP是否相等
分析:(1)为了保证碰撞前后使入射小球的速度方向不变,故必须使入射小球的质量大于被碰小球的质量.
(2)为了保证小球做平抛运动,所以必须使斜槽的末端切线水平.
(3)为了保证每次小球运动的情况相同,故应该让入射小球a每次从同一位置滚下.本题要验证动量守恒定律定律即m1v0=m1v1+m2v2,故需验证m1 LOM+m2 (LON-d)与m1 LOP是否相等.
解答:解:(1)在小球碰撞过程中水平方向动量守恒定律故有m1v0=m1v1+m2v2
在碰撞过程中动能守恒,故有
1
2
m1v02=
1
2
m1v12+
1
2
m2v22
解得v1=
m1-m2
m1+m2
v
0

要碰后入射小球的速度v1>0,即m1-m2>0,
故答案为:>.
(2)要小球做平抛运动,则斜槽的末端必须水平.
故答案为;其末端切线水平.
(3)ABC选项都正确.
 D选项中,球a 应从与C项相同高度滑下;
 E选项中,P、M、N点应该是多次实验落地点的平均位置.
F选项中,应看m1 LOM+m2 (LON-d)与m1 LOP是否相等
点评:本实验的一个重要的技巧是入射球和靶球从同一高度作平抛运动并且落到同一水平面上,故下落的时间相同,所以在实验的过程当中把本来需要测量的速度改为测量平抛过程当中水平方向发生的位移,可见掌握了实验原理才能顺利解决此类题目.
练习册系列答案
相关习题

科目:高中物理 来源: 题型:

(1)现行高中物理教材的学生实验中,提供了重锤线的是
AC
AC

A、研究平抛物体的运动    B、验证机械能守恒定律
C、验证动量守恒定        D、用单摆测定重力加速度
(2)在利用自由落体运动验证机械能守恒定律的实验中:若打点计时器所接交流电的频率为50赫兹,甲、乙两条实验纸带,如图1所示,应选
纸带好.若已测得点2到4间距离为s1,点0到3间距离为s2,打点周期为T,验证重物开始下落到打点计时器打下点3这段时间内机械能守恒,s1、s2和T应满足的关系为T=
S1
2
2gS2
S1
2
2gS2


(3)影响物质材料电阻率的因素很多.一般金属材料的电阻率随温度的升高增大,而半导体材料的电阻率则随温度的升高而减小.某校研究性学习小组为了研究某种导电材料的导电特性,他们用该种材料制作成电阻值较小的线状元件z做实验,所用电压表的量程为3V,电流表的量程为3A,测得元件Z中的电流与相应电压的9组数据标在I-U图上.
①他们进行实验应选用的实物电路图是图2中的
C
C


②在交流评价过程中某同学提出,有2组实验数据存在明显的错误,你认为是
C、D
C、D
(只需填上与该数据对应的点O、A、B…)
③请在图3上画出元件Z的伏安特性曲线,判断元件Z是
半导体
半导体
材料(“金属”或“半导体”).

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