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利用薄膜干涉可检查工件表面的平整度.如图(a)所示,现使透明标准板M和待检工件N间形成一楔形空气薄层,并用单色光照射,可观察到如图(b)所示的干涉条纹,条纹的弯曲处P和Q对应于A和B处,下列判断中正确的是(  )
分析:薄膜干涉形成的条纹是膜的上下表面的发射光干涉产生的.当两反射光的路程差(即膜厚度的2倍)是半波长的偶数倍,出现明条纹,是半波长的奇数倍,出现暗条纹,可知薄膜干涉是等厚干涉,即明条纹处空气膜的厚度相同.
解答:解:A、薄膜干涉是等厚干涉,即明条纹处空气膜的厚度相同.条纹的cd点在直条纹处,故cd点对应处的薄膜厚度相同,
从弯曲的条纹可知,A处检查平面左边处的空气膜厚度与后面的空气膜厚度相同,知A处凹陷,
B处检查平面右边处的空气膜厚度与后面的空气膜厚度相同,知B处凸起,故A错误,B正确;
C、由图可知,条纹间距相等,则条纹的cd点对应处的薄膜厚度也相同,故C正确;
D、当减少薄片的厚度,即减小空气薄层的宽度,导致同级的光程差的间距变大,则干涉条纹间距会增大,故D正确;
故选:BCD.
点评:解决本题的关键知道薄膜干涉形成的条纹是膜的上下表面的发射光干涉产生的.以及知道薄膜干涉是一种等厚干涉,注意空气薄层的厚度与条纹间距的关系.
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A、N的上表面A处向上凸起B、N的上表面B处向上凸起C、条纹的cd点对应处的薄膜厚度相同D、条纹的d、e点对应处的薄膜厚度相同

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利用薄膜干涉可检查工件表面的平整度.如图(a)所示,现使透明标准板M和待检工件N间形成一楔形空气薄层,并用单色光照射,可观察到如图(b)所示的干涉条纹,条纹的弯曲处PQ对应于AB处,下列判断中正确的是

A.N的上表面A处向上凸起

B.N的上表面B处向上凸起

C.

条纹的cd点对应处的薄膜厚度相同

D.

条纹的de点对应处的薄膜厚度相同

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利用薄膜干涉可检查工件表面的平整度.如图(a)所示,现使透明标准板M和待检工件N间形成一楔形空气薄层,并用单色光照射,可观察到如图(b)所示的干涉条纹,条纹的弯曲处P和Q对应于A和B处,下列判断中正确的是(     ).

A.N的上表面A处向上凸起
B.N的上表面B处向上凸起
C.条纹的cd点对应处的薄膜厚度相同
D.条纹的d、e点对应处的薄膜厚度相同

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A.N的上表面A处向上凸起

B.N的上表面B处向上凸起

C.条纹的cd点对应处的薄膜厚度相同

D.条纹的d、e点对应处的薄膜厚度相同

 

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