用干涉法检查平面的装置和观察到的干涉条纹如图所示，跟弯曲的条纹上A、B两处对应的空气层厚度分别为d_A和d_B，那么

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利用薄膜干涉的原理可以用干涉法检查平面和制造增透膜，回答以下两个问题：(1)用图13－2－6所示的装置检查平面时，是利用了哪两个表面反射光形成的薄膜干涉图样？(2)为了减少光在透镜表面由于反射带来的损失，可在透镜表面涂上一层增透膜，一般用折射率为1.38的氟化镁，为了使波长为5.52×10^{－7 m}的绿光在垂直表面入射时使反射光干涉相消，求所涂的这种增透膜的厚度．

利用薄膜干涉的原理可以用干涉法检查平面和制造

增透膜，回答以下两个问题：

(1)用图所示的装置检查平面时，是利用了哪两

个表面反射光形成的薄膜干涉图样？

(2)为了减少光在透镜表面由于反射带来的损失，可在透镜表面涂上一层增透膜，一

般用折射率为1.38的氟化镁，为了使波长为5.52×10^{－7 m}的绿光在垂直表面入射时使反射光干涉相消，求所涂的这种增透膜的厚度．

如图是用干涉法检查平面的平整程度的示意图。其中AB是透明的样板，CD是被检查的平面。用单色光从上面竖直地照射下来，观察两束反射光线叠加后的结果。这里的两束反射光分别是指从以下哪两个表面反射的光

A．从AB的上表面和AB的下表面

B．从AB的上表面和CD的上表面

C．从AB的下表面和CD的上表面

D．从AB的下表面和CD的下表面